品牌 | 精測(cè) | 扣背景技術(shù) | 氘燈+自吸收扣背景 |
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檢測(cè)器類 | 光電倍增器 | 光學(xué)系統(tǒng) | 單光束 |
單色元件 | 平面光柵 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
儀器種類 | 火焰 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,化工,農(nóng)業(yè),地礦 |
合肥原子吸收分光光度計(jì)廠家
火焰原子吸收分光光度計(jì)的優(yōu)缺點(diǎn)
優(yōu)點(diǎn):火焰原子化法的操作簡(jiǎn)便,重現(xiàn)性好,有效光程大,因此應(yīng)用廣泛。
缺點(diǎn):原子化效率低,靈敏度不夠高,而且一般不能直接分析固體樣品。
火焰原子吸收分光光度計(jì)干擾效應(yīng)
原子吸收光譜分析法與原子發(fā)射光譜分析法相比,盡管干擾較少并易于克服,但在實(shí)際工作中干擾效應(yīng)仍然經(jīng)常發(fā)生,
而且有時(shí)表現(xiàn)得很嚴(yán)重,因此了解干擾效應(yīng)的類型、本質(zhì)及其抑制方法很重要。
原子吸收光譜中的干擾效應(yīng)一般可分為四類:①光譜干擾;②電離干擾;③化學(xué)干擾;④物理干擾。
1、光譜干擾
光譜干擾是指與有關(guān)光譜發(fā)射和吸收的干擾效應(yīng)。它主要來源于光源和原子化器。常見的光譜干擾有以下五種情況:
1、非共振線吸收的干擾
在測(cè)定的共振線波長(zhǎng)附近,有單色器不能分離的被測(cè)元素的其他光譜線。
常見于多譜線元素,例如,鎳的分析線附近還有多條鎳的光譜線,這些譜線也能被鎳所吸收,但由于吸收系數(shù)不同、
且一般都比共振線吸收系數(shù)低,結(jié)果導(dǎo)致測(cè)定靈敏度下降和標(biāo)準(zhǔn)工作曲線的彎曲。
一般可用減小狹縫的方法來改善和消除這種干擾。
2、空心陰極燈的發(fā)射干擾
空心陰極燈內(nèi)材料含雜質(zhì)較多時(shí),發(fā)射的非待測(cè)元素譜線不能為單色器所分開,結(jié)果也會(huì)導(dǎo)致測(cè)定靈敏度下降和標(biāo)準(zhǔn)
工作曲線的彎曲。
例如:鉛燈中的銅發(fā)射的216.5nm、216.7nm譜線與鉛的217.0nm共振線無法分開時(shí),會(huì)影響正常吸收。
使用純度較高的單元素?zé)?,可避免此干擾。
3、自身發(fā)射和背景發(fā)射干擾
試樣中被測(cè)元素的原子受熱或吸收光源的輻射能后,本身被激發(fā)并發(fā)射出與吸收譜線相同波長(zhǎng)的特征畐射。
火焰復(fù)雜燃燒所生成的的CO、CH、C2、O2、CN、OH等分子和游離基在火焰的高溫激發(fā)下,也能發(fā)射線狀或帶狀光譜。
例如,乙炔分子在300~500nm譜區(qū)有較強(qiáng)的帶狀特征輻射。它們會(huì)疊加在分析光上。背景發(fā)射產(chǎn)生的是直流信號(hào)。
解決方法:儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),將單色器放在原子化器和檢測(cè)器之間,除去大部分背景發(fā)射。
利用光學(xué)系統(tǒng)的調(diào)整,使背景發(fā)射不能聚焦在單色器狹縫上,以減少其影響。
4、分子光譜吸收干擾
5、光的散射
2、物理干擾及其抑制
試樣在轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)過程中,由于溶質(zhì)或溶劑的特性(如粘度、表面張力等)以及霧化氣體壓力等的變化,使噴霧效率或待測(cè)
元素進(jìn)入火焰的速度發(fā)生改變而弓I起的干擾。
如:溶液中鹽或酸的濃度大時(shí),霧化效率下降,影響進(jìn)入火焰中待測(cè)元素的原子數(shù)量,進(jìn)而影響吸光度的大小。消除物理
干擾的方法:配制與待測(cè)試樣具有相似組成的標(biāo)準(zhǔn)溶液或適當(dāng)稀釋試樣減少干擾。
3、化學(xué)干擾
干擾物與被測(cè)元素之間形成較強(qiáng)的化學(xué)鍵或晶體,不易解離而影響原子化。
化學(xué)干擾類型和影響因素有:①陽(yáng)離子干擾②陰離子干擾③絡(luò)合物干擾④火焰類型影響化學(xué)干擾。
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